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- Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X : 24-25 January 2011, San Francisco, California, United States (Paperback)
- Sonia Garcia-Blanco
- SPIE Press | 2011년 05월 | 2011년 05월
- 148,830원 (10% 할인 / 4,470원)
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