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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition (Hardcover, 3, Corrected 2003.)
Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph I. Goldstein, Patrick Kchlin, Charles E. Lyman, Eric Lifshin, Linda Sawyer, Michael, Joseph R.
Plenum Pub Corp | 2003년 01월 | 2003년 01월
179,730원 (18% 할인 / 8,990원)
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X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments (Hardcover)
Joseph I. Goldstein, David B. Williams
Plenum Pub Corp | 1995년 03월 | 1995년 03월
305,430원 (18% 할인 / 15,280원)
택배로 주문하면 12월 12일 출고 변경

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (Paperback, 4, Softcover Repri)
Dale E. Newbury, Joseph I. Goldstein, Michael, Joseph R.
Springer | 2018년 08월 | 2018년 08월
152,700원 (18% 할인 / 7,640원)
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (Hardcover, 1986)
Dale E. Newbury, David C. Joy, Patrick Echlin, Charles E. Fiori, Joseph I. Goldstein
Plenum Pub Corp | 1986년 03월 | 1986년 03월
259,610원 (18% 할인 / 12,990원)
택배로 주문하면 12월 12일 출고 변경

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