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A Designer's Guide to Built-In Self-Test (Hardcover, 2002)
Charles E. Stroud
Kluwer Academic Pub | 2002년 05월 | 2002년 05월
305,430원 (18% 할인 / 15,280원)
택배로 주문하면 10월 15일 출고 변경

A Designer's Guide to Built-In Self-Test (Paperback, Softcover Repri)
Charles E. Stroud
Springer Verlag | 2013년 03월 | 2013년 03월
305,430원 (18% 할인 / 15,280원)
택배로 주문하면 10월 15일 출고 변경

태블릿파우치 (대학교재.수험서.외국어.컴퓨터 5만원 이상 구매 시)

System-On-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability Volume . (Hardcover)
Nur A. Touba , Laung-terng Wang, Charles E. Stroud (엮은이)
Morgan Kaufmann Pub | 2007년 11월 | 2007년 11월
116,670원 (18% 할인 / 5,840원)
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